01｜检测需求：扫描薄膜圆圈的高度差

02｜检测方式

客户要求扫描薄膜圆圈的高度差，根据观察样品我们选择立仪科技D40A30镜头搭配H系列控制器进行测量

03｜光谱共焦测量结果

薄膜圆圈的高度差轮廓

04｜光谱共焦侧头

D40A30侧头相关参数

05｜H系列控制器

H系列控制器相关参数

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